法律法規(guī)與政策 CSTM制度 CSTM標準編寫 CSTM材料與試驗相關(guān)標準

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ATC 001 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析技術(shù) ATC 002 火花源原子發(fā)射光譜分析技術(shù) ATC 003 X射線熒光光譜分析技術(shù) ATC 004 輝光放電發(fā)射光譜分析技術(shù) ATC 005 原子熒光光譜分析技術(shù) ATC 006 原子吸收光譜分析技術(shù) ATC 007 紫外-可見吸收光譜分析技術(shù) ATC 008 分子熒光光譜分析技術(shù) ATC 009 紅外光譜分析技術(shù) ATC 010 氣相色譜分析技術(shù) ATC 011 液相色譜分析技術(shù) ATC 012 毛細管電泳分析技術(shù) ATC 013 固體無機材料中碳硫分析技術(shù) ATC 014 固體無機材料中氣體成分（O、N、H）分析技術(shù) ATC 015 核磁共振分析技術(shù) ATC 016.1 氣相色譜-質(zhì)譜分析技術(shù) ATC 016.2 液相色譜-質(zhì)譜分析技術(shù) ATC 017 電感耦合等離子體質(zhì)譜分析技術(shù) ATC 018 電化學(xué)分析技術(shù) ATC 019 物相分離分析技術(shù) ATC 020 重量分析法 ATC 021 滴定分析法 ATC 022 有機物中元素（C、S、O、N、H）分析技術(shù) ATC 023 酶標分析技術(shù) ATM 001 拉伸試驗技術(shù) ATM 002 彎曲試驗技術(shù) ATM 003 扭轉(zhuǎn)試驗技術(shù) ATM 004 延性試驗技術(shù) ATM 005 硬度試驗技術(shù) ATM 006 斷裂韌度試驗技術(shù) ATM 007 沖擊試驗技術(shù) ATM 008 疲勞試驗技術(shù) ATM 009 磨損試驗技術(shù) ATM 010 剪切試驗技術(shù) ATM 011 壓縮試驗技術(shù) ATM 012 撕裂試驗技術(shù) ATM 013 高溫持久、蠕變、松弛試驗技術(shù) ATP 001 金相低倍檢驗技術(shù) ATP 002 金相高倍檢驗技術(shù) ATP 003 掃描電鏡和電子探針分析技術(shù) ATP 004 透射電鏡分析技術(shù) ATP 005 多晶X射線衍射技術(shù) ATP 006 AES俄歇電子能譜分析技術(shù) ATP 007 XPS X光電子能譜分析技術(shù) ATP 008 SPM掃描探針顯微分析技術(shù) ATP 009 密度測量技術(shù) ATP 010 熱分析技術(shù) ATP 011 導(dǎo)熱系數(shù)測量技術(shù) ATP 012 熱輻射特性參數(shù)測量技術(shù) ATP 013 熱膨脹系數(shù)測量技術(shù) ATP 014 熱電效應(yīng)特征參數(shù)測量技術(shù) ATP 015 電阻性能參數(shù)測量技術(shù) ATP 016 磁性參數(shù)測量技術(shù) ATP 017 彈性系數(shù)測量技術(shù) ATP 018 聲學(xué)性能特征參數(shù)測量技術(shù) ATP 019 內(nèi)耗阻尼性能參數(shù)測量技術(shù) ATP 020 粒度分析技術(shù) ATP 021 比表面分析技術(shù) ATP 022 熱模擬試驗技術(shù)

• ATC 001 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析技術(shù)

• ATC 002 火花源原子發(fā)射光譜分析技術(shù)

• ATC 003 X射線熒光光譜分析技術(shù)

• ATC 004 輝光放電發(fā)射光譜分析技術(shù)

• ATC 005 原子熒光光譜分析技術(shù)

• ATC 006 原子吸收光譜分析技術(shù)

分析檢測人員考核專欄 培訓(xùn)考評教師考核專欄 復(fù)核

• 分析檢測人員考核專欄

  化學(xué)ATC 物理ATP 力學(xué)ATM 標準

• 培訓(xùn)考評教師考核專欄

  化學(xué)ATC 物理ATP 力學(xué)ATM

• 復(fù)核

培訓(xùn)機構(gòu) 考核基地

• 培訓(xùn)機構(gòu)

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• 考核基地

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